생산 기판 테스트
디바이스 프로그래밍 솔루션
ICT(In-Circuit Test) 단계에서 플래시 메모리와 ISP 디바이스를 프로그래밍하면 이러한 유형의 디바이스의 재고 관리 및 처리와 관련된 결함, 비용 및 복잡성을 줄일 수 있습니다.
AutoFLASH
AutoFLASH를 통해 사용자는 그래픽 사용자 인터페이스에 명령 정보를 입력해 다양한 플래시 디바이스를 위한 모델을 손쉽게 생성할 수 있습니다. 모델이 생성되고 나면 사용자는 강력한 디버그 메뉴를 사용해 모델을 디버그할 수 있습니다.
AutoFLASH를 통해 사용자는 손쉽게 모델을 생성하고, 디버그하고, 플래시 디바이스를 프로그래밍할 수 있습니다.
DSM(Deep Serial Memory)
TestStation 기판 테스트 시스템은 DSM(Deep Serial Memory) 하드웨어 옵션을 사용해 플래시 EEPROMS를 프로그래밍하고 테스트할 수 있습니다. DSM 옵션을 사용할 경우 얻을 수 있는 이점은 다음과 같습니다.
- 테스트할 때 동시에 플래시 EEPROM을 프로그래밍하여 효율성과 테스트 처리량이 향상됨
- 제조 프로세스의 단계 수가 감소하고 프로그래밍이 간소화됨
- 기판 처리 및 설정 시간은 늘어나지 않고 2개의 생산 단계가 하나로 결합됨
- 모든 신호에 대한 Bed-of Nails 액세스가 가능하고 필요에 따라 디바이스를 자동으로 비활성화할 수 있음
- 최대 1024MB의 긴 직렬 디지털 테스트 패턴을 저장함
- 경계 스캔, 시스템 내 프로그래밍, 플래시 프로그래밍 애플리케이션의 프로그래밍을 간소화하고 테스트 처리 속도를 높임
