메모리
Teradyne을 선택해야 하는 이유
Teradyne의 고객들은 메모리 디바이스 제조업체에 보장된 성능 이점을 제공하는 니어 DUT(Device Under Test) 기술을 신뢰합니다. 동적 메모리 및 스토리지 메모리 디바이스에 대한 간략한 설명에서는 디바이스 제조업체가 Teradyne의 메모리 테스트 솔루션을 신뢰하는 이유를 강조합니다.
동적 메모리는 휘발성 메모리라고도 할 수 있습니다. DDR(Double Data Rate) 기술을 사용하는 이 유형의 메모리는 전원이 공급되는 동안에만 데이터를 유지합니다. GPU(Graphics Processing Unit)와 함께 작동해 수천 가지 색상으로 초고해상도 사진을 표시하는 초고속 메모리인 GDDR(Graphics Double Data Rate) 메모리도 있습니다.
예를 들어 노트북의 경우 CPU(Central Processing Unit)가 동적 메모리를 사용해 작업을 수행합니다. 메모리는 컴퓨터 앱 실행, 네트워크 전반의 통신, 그래픽 프로세서를 사용한 정보 표시와 같은 기능을 수행하는 데이터를 처리할 때 프로세서를 따라잡을 수 있어야 합니다. 즉 CPU가 빨라질수록 메모리도 빨라져야 합니다. 노트북은 CPU 또는 메모리의 속도 중 더 느린 속도로 실행됩니다. 프로세서의 속도가 증가하면 메모리 디바이스가 그 속도를 따라가야 합니다. 이에 따라 컴퓨터에 사용되는 여러 세대의 DDR 디바이스와 휴대전화와 같은 애플리케이션에 사용되는 LPDDR(Low Power Double Data Rate)이 생겼습니다.
그 외 유형의 메모리 디바이스는 스토리지 메모리 또는 비휘발성 메모리라고 합니다. 이 메모리에는 전원이 꺼진 경우에도 저장된 데이터를 보관하는 기능이 있습니다. 다시 노트북의 경우를 살펴보면, USB 플래시 드라이브는 USB 포트에 연결하는 외장 플래시 드라이브입니다. 이는 정보를 저장하는 데 사용되는 보조 메모리 소스입니다. 플래시 메모리 속도도 계속해서 증가하고 있으므로 노트북의 작동 속도가 빨라지고 있습니다.
메모리 디바이스의 속도 증가가 테스트 시스템의 아키텍처와 연관성이 있거나 테스트 시스템의 아키텍처에 중요한 이유는 무엇일까요? 일부 디바이스 테스트 시스템은 인스투르먼트 기판과 DUT 간의 유선 신호 전달로 설계되었습니다. 이제 속도를 높이려면 테스트 인스투르먼트를 DUT와 연결해야 합니다. 디바이스는 단거리로 데이터를 푸시하도록 설계되었습니다. 인스투르먼트 기판이 케이블로 연결되어 있고 디바이스에서 멀리 떨어져 있는 경우 테스터가 분석하는 디바이스 신호에서 감쇠가 발생할 수 있습니다.
Teradyne의 메모리 테스트 솔루션
Teradyne의 Magnum 메모리 테스트 솔루션은 니어 DUT 테스트 기술로 설계되었습니다. 인스투르먼트 기판은 DUT와 테스트 인스투르먼트 사이에 업계에서 가장 짧은 거리를 제공하는 테스트 헤드 확장과 테스트 인터페이스 디바이스 내에 있습니다. 이 혁신적인 아키텍처 설계 덕분에 메모리 디바이스 제조업체는 디바이스의 성능을 전체적으로 ‘빠르게 테스트’할 수 있습니다. 이는 데이터 신호 무결성을 향상할 뿐만 아니라 훨씬 더 짧은 RTD(Round Trip Delay)를 생성해 RMW(Read Modify Write) 패턴에 대한 테스트 시간을 줄이고 핀 밀도를 크게 높여 더 뛰어난 병렬 사이트 카운트 테스트를 지원합니다.
Magnum의 아키텍처 설계는 오늘날의 메모리 디바이스를 수용하며, LPDDR, DDR, GDDR 또는 플래시 디바이스 등 미래의 메모리 디바이스 속도를 테스트할 준비가 되어 있습니다.
정확한 고속 데이터 신호를 위해 설계된 Teradyne의 메모리 테스트 솔루션은 다음과 같습니다.
Magnum 2
Teradyne의 Magnum 2 테스트 시스템은 고성능 비휘발성 메모리, 정적 RAM 메모리, 로직 디바이스를 위해 높은 처리량과 병렬 테스트 효율성을 제공합니다.
Magnum V
Teradyne의 Magnum V 시스템은 초고성능 FLASH 및 DRAM 메모리를 위해 높은 처리량과 병렬 테스트 효율성을 제공합니다. Magnum V의 최대 구성은 채널당 1,600Mbps로 최대 20,480개의 디지털 채널을 제공합니다.
Magnum VUx
Teradyne의 Magnum VUx 시스템은 SSD NAND ONFI, Toggle 및 UFS 2.1, PCIe Gen 3, e.MMC, eMCP와 같은 레거시 NAND뿐만 아니라 모든 NAND 및 MCP 제품, 첨단 UFS 3.0, uMCP, PCIe Gen 4 모바일 및 자동차 디바이스를 위한 유연한 상위 집합 테스트 플랫폼입니다.
Magnum EPIC
Teradyne의 Magnum EPIC은 최신 세대 DRAM 디바이스를 위한 고성능 테스트 솔루션입니다. 이러한 디바이스는 5G, AI, 클라우드 컴퓨팅, 자율 주행 차량, AR/VR 및 HD 그래픽을 사용하는 애플리케이션과 같은 기술의 주요 동인입니다.