Magnum 2

고성능, 저비용, 고효율성, 병렬 메모리 테스트 솔루션

Teradyne의 Magnum 2 테스트 시스템은 고성능 비휘발성 메모리, 정적 RAM 메모리, 로직 디바이스를 위해 높은 처리량과 병렬 테스트 효율성을 제공합니다.

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이점

확장 가능한 플랫폼

우수한 처리량과 높은 병렬 테스트 효율성을 통해 낮은 채널 카운트 엔지니어링 솔루션에서 높은 채널 카운트 생산 솔루션으로 확장

고도의 병렬 NOR/NAND 플래시 디바이스 테스트

최대 64개의 디바이스 핀으로 최대 80개의 NOR 플래시 디바이스 테스트 및 최대 16개의 디바이스 핀으로 최대 320개의 NAND 플래시 디바이스 테스트
최대 16개의 디바이스 핀으로 최대 320개의 NOR 플래시 디바이스 테스트 또는 최대 8개의 DUT 핀으로 640개의 플래시 디바이스 테스트

듀얼 뱅크 ECR

하드웨어 가속 및 RA 프로세서 포함
동시 캡처 및 스캔으로 테스트 시간 단축

전속력 ECR

모든 채널에서 800Mbps 캡처

각 채널의 고유한 데이터

DUT당 DRAM eFuse 및 NAND 잘못된 블록 관리

로직 테스트 커버리지

혼합 패턴
Topo Scrambling 전체 APG
핀당 LVM 벡터 메모리의 전체 로직 패턴 시퀀서
같은 패턴의 APG + LVM 시퀀스

애플리케이션

메모리

NOR 플래시
NAND 플래시
SRAM
DRAM
MEM

SOC

마이크로컨트롤러
로우엔드 SOC
컨버터

구성

Magnum 2 EV

자체 포함, 저전력 엔지니어링 테스트 시스템
테스트 프로그램 개발 및 디버그가 필요한 고객 및 실험실 애플리케이션용
최대 128개 디지털 I/O 핀과 옵션 보드(DPS, VRC 또는 MPAC)
내부 공기 압축기로 인해 로드 보드 래치 메커니즘을 작동시키기 위해 시설 내 압축 공기의 필요성이 사라짐
표준 110VAC 전력에서 실행(유럽: 220VAC)

Magnum 2 PV

128개씩 증가하는 핀에서 최대 640개 디지털 I/O 핀을 지원하는 5-슬롯 섀시
복잡한 메모리 및 로직 애플리케이션에 대한 요구 사항을 충족시키기 위해 적절한 수의 디지털 I/O 채널과 맞는 여러 DPS, VRC 또는 MPAC 옵션 보드로 구성할 수 있음

Magnum 2 SV

고혼합 생산 솔루션
병렬 테스트를 위한 최대 1,024개의 디지털 핀
최종 테스트 및 웨이퍼 정렬 생산
업계 표준 핸들러 및 웨이퍼 프로버와 호환(힌지 및 칼럼 매니퓰레이터 포함)

Magnum 2 SSV FT

최종 테스트 애플리케이션용
최대 2,560개 디지털 채널로 구성됨
매우 높은 용량의 디바이스 핸들러에 대한 직접 도킹을 위해 Teradyne 수직면 매니퓰레이터에 통합
싱글 또는 듀얼 캐비티 핸들러 구성
시스템 장착 도킹 하드웨어

Magnum 2 SSV WS

웨이퍼 정렬 애플리케이션용
최대 2,560개 디지털 채널로 구성됨
다수의 타사 힌지 및 열 매니퓰레이터와 손쉽게 통합
인터페이스가 래칭된 프로버와 통신하는 매니퓰레이터 모터 록아웃 솔루션

Magnum 2 GV FT

최종 테스트 애플리케이션용
최대 5,120개 디지털 채널로 구성됨
매우 높은 용량의 디바이스 핸들러에 대한 직접 도킹을 위해 Teradyne 수직면 매니퓰레이터에 통합
싱글 캐비티 또는 듀얼 캐비티 핸들러 구성

Magnum 2 GV WS

웨이퍼 정렬 애플리케이션용
최대 5,120개 디지털 채널로 구성됨
다수의 타사 힌지 및 열 매니퓰레이터와 손쉽게 통합
인터페이스가 래칭된 프로버와 통신하는 매니퓰레이터 모터 록아웃 솔루션

시스템 옵션

MPAC

아날로그 소스 및 캡처 옵션
소스/캡처/Vref의 24개 또는 48개 채널로 사용 가능
포함된 컨버터를 포함한 여러 테스트 애플리케이션의 전압 기준
모든 인스투르먼트 채널에서 사용할 수 있는 통합 PMU(Parametric Measurement Unit)

DPS

고도의 병렬 테스트를 해야 하는 낮은 핀 카운트 디바이스 테스트를 위한 옵션
리소스 활용과 디바이스 병렬성 극대화
32개 및 64개 채널 구성으로 사용 가능

MPAC24/DPS32

옵션은 24개의 MPAC 채널과 32개의 DPS 채널의 조합

TCALDX

높은 처리량, 저비용 디지털 채널 교정 옵션
‘릴레이-트리’ 교정 기법보다 빠르게 시스템을 교정하는 하드웨어 및 소프트웨어 솔루션

추적 가능성

추적 가능성을 지원하기 위한 NIST 인증 인스투르먼트(Magnum 2 시스템은 NIST 준수를 직접 지원하지 않음)
AC 측정의 경우, TCALDX 포트는 사이트 어셈블리당 하나인 Magnum 2 AC 하위 시스템의 내부 결정체에 대한 액세스 권한을 제공합니다. 타이밍 경로는 AC 추적성을 위한 경로를 제공하기 위해 디지털 카운터 케이블을 통해 NIST Certified Stanford Research SR620 카운터(또는 등가물)로 라우팅됩니다.
DC 측정의 경우, TCALDX 포트는 Magnum 2 DC 하위 시스템의 기준 전압에 대한 액세스 권한을 제공합니다. 기준 전압은 사이트 어셈블리의 각각의 DP 보드에서 소싱되고, DC 추적성을 위한 경로를 제공하기 위해 디지털 멀티미터 케이블을 통해 NIST certified Agilent 3458A 멀티미터(또는 등가물)로 라우팅됩니다.

인터페이스 솔루션
DIB, PIB, 로드 보드, 교정 BD, DUT BD 스티프너 키트, 프로브 카드 스티프너 키트. 최종 테스트 인터페이스, 웨이퍼 프로브 인터페이스, 도킹 솔루션 및 테스트 셀 통합

소프트웨어

MagnumUI 소프트웨어는 테스트 엔지니어에게 진정한 디바이스 지향적 병렬 테스트 프로그래밍 환경을 제공하도록 설계된 DUT 기반 멀티 사이트 아키텍처입니다. 테스트 엔지니어는 단일 디바이스를 위한 테스트 프로그램을 작성하고, 시스템 하드웨어는 테스트를 여러 사이트에 자동으로 복제합니다. Magnum 2 EV 또는 Magnum 2 PV에서 개발된 테스트 프로그램은 병렬 테스트를 극대화하기 위해 Magnum 2의 생산 버전에서 사용할 수 있습니다. 모든 소프트웨어 도구는 마치 한 개 사이트 테스터였던 것처럼 어떤 DUT 사이트에서든 테스트 엔지니어가 디바이스 성능을 조사할 수 있도록 사이트에 대해 잘 알고 있습니다.