Magnum V
초고성능 FLASH 및 DRAM 메모리 테스트 솔루션
Teradyne의 Magnum V 시스템은 초고성능 FLASH 및 DRAM 메모리를 위해 높은 처리량과 병렬 테스트 효율성을 제공합니다. Magnum V의 최대 구성은 채널당 1,600Mbps로 최대 20,480개의 디지털 채널을 제공합니다.
이점
고성능
Magnum V의 1.6Gbps SuperMux 모드는 현재와 미래의 차세대 초고속 메모리 디바이스를 포함합니다.
높은 병렬성
Magnum V GV는 생산 테스트를 위해 최대 20,480개의 디지털 핀이 병렬 테스트 용량을 극대화하도록 구성할 수 있습니다. 최대 수의 테스터 리소스는 최고 핀 성능에서 가능한 가장 작은 영역으로 라우팅됩니다.
확장 가능한 플랫폼
각 구성에서 현재와 미래의 디바이스에 대해 최대 병렬성에서 DSA 호환성을 유지하면서, 기존의 ‘케이블 사용 준비가 된’ TIU에 테스터 채널을 추가하는 것이 간단합니다.
독립적 사이트 리소스
로컬 3.4GHz 쿼드 코어 사이트 프로세서는 옵션 병렬 효율성에서 동시 발생 테스트, 단일 삽입 MCP LPDDR 및 NAND를 위한 여러 테스트 프로그램을 지원합니다.
LPDDR 기능 세트
Magnum V는 공통 플랫폼의 퓨전 메모리 커버리지와 플래시 및 DRAM 테스트를 위해 제공할 DRAM을 위한 패턴 및 타이밍 확장 기능이 있습니다.
애플리케이션
- eMMC
- 토글 NAND
- 레거시 NAND
- ONFI FLASH
- MCP
- eMCP
- LPDDR2
- LPDDR3
구성
Magnum V EV
- 테스트 프로그램 개발과 디버그를 위한 자체 포함, 저전력 엔지니어링 테스트 시스템
- 512개씩 증가하는 핀에서 최대 1,024개 디지털 핀 구성 가능
- 다른 SSV 및 GV 생산 시스템의 DSA-TCALDX 및 DSA와 완전 호환
Magnum V SSV(FT)
- 최종 테스트 애플리케이션용
- 최대 10,240개의 디지털 핀으로 구성 가능
- 업계 표준 디바이스 핸들러에 대한 효율적 도킹을 위해 Teradyne 수직면 매니퓰레이터에 통합
Magnum V GV FT
- 최종 테스트 애플리케이션용
- 최대 20,480개의 디지털 핀으로 구성 가능
- 업계 표준 디바이스 핸들러에 대한 효율적 도킹을 위해 Teradyne 수직면 매니퓰레이터에 통합
Magnum V SSV WS
- 웨이퍼 정렬 애플리케이션용
- 최대 10,240개의 디지털 핀으로 구성 가능
- Teradyne 표준 520mm 프로브 카드 표준 웨이퍼 정렬 인터페이스 사용
- 최대 한계 높이 사양을 최소화하는 타사 열 매니퓰레이터에 맞게 조정하도록 설계
시스템 옵션
최종 테스트 ‘TIU(Tester Interface Unit)’
핸들러 DUT 접촉기에 대한 SSV 및 GV TIU의 인터페이스 1.6Gbps 디지털 채널. 핸들러별 TIU는 TW322, TW-S7, TW350, STH5600을 포함한 여러 Techwing 및 Secron 디바이스 핸들러에 사용할 수 있습니다. Magnum V TIU/DSA 인터페이스 기술은 DSA(소켓 보드)에 대한 단일 케이블 직접 상호연결을 통해 최대 신호 성능을 제공합니다. 이는 값비싼 타사 마더보드/케이블/소켓 보드 툴링 필요성을 없애줍니다.
웨이퍼 정렬 TIU
SSV 웨이퍼 정렬 TIU는 여러 Teradyne 웨이퍼 정렬 시스템 구성에 사용되는 K52 프로브 인터페이스를 활용합니다. 웨이퍼 정렬 SSV TIU는 생산 테스트 환경에서 최대 유연성을 제공하기 위해 최종 테스트 SSV TIU와 스와핑할 수 있습니다. Magnum V K52 인터페이스는 최저 비용과 최대 성능을 위해 프로브 카드에 대한 직접 도킹, 타워리스 연결을 제공합니다.
DSA 스타일 TCALDX 교정
DSA TCALDX 옵션은 고객 선택 TIU를 위해 특별히 설계된 핸들러별 교정 디바이스입니다. 일단 Magnum V를 교정하면, 교정표가 TIU에 로드되는 고객 디바이스별 DSA와 일치합니다.
인터페이스 솔루션
DSA 스타일 TCALDX, DUT BD 스티프너 키트, 프로브 카드 스티프너 키트, 접촉기
소프트웨어
Magnum 운영 체제는 DUT 기반 멀티 사이트 아키텍처입니다. Magnum의 소프트웨어는 테스트 엔지니어에게 진정한 디바이스 지향적 병렬 테스트 프로그래밍 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 테스트 엔지니어는 단일 디바이스를 위한 테스트 프로그램을 작성하고, 시스템 하드웨어는 테스트를 여러 사이트에 자동으로 복제합니다. Magnum V EV에서 개발된 테스트 프로그램은 병렬 테스트를 극대화하기 위해 생산 버전 Magnum V에서 사용할 수 있습니다. 모든 소프트웨어 도구는 마치 한 개 사이트 테스터였던 것처럼 어떤 DUT 사이트에서든 테스트 엔지니어가 디바이스 성능을 조사할 수 있도록 사이트에 대해 잘 알고 있습니다.