NANDプロトコルテスト強化のためのMagnum VUx

柔軟性

Magnum VUは、次世代モバイルデバイスや車載デバイスのUFS3.0やPCIe Gen4のプロトコルテストはもちろん、前世代のモバイルデバイスのUFS2.1、PCI Gen3、eMMC、さらにはONFI、Toggle、SSDのRaw NANDのテストまでを独自にカバーする柔軟なスーパーセット・テスト・プラットフォームです。この柔軟性により、次世代NANDのテストキャパシティとエンジニアリングの全てにおいて、最もリスクの低い投資が可能になります

Scalable

Magnum VUは、長寿命でスケーラブルなテスト・プラットフォームです。テラダインは、お客様のテスト・プラットフォームへの投資を活かすため、当初はUPB、今年はUPBx、そして次のテクノロジーに対応するときにはUPByと、簡単にアップグレードできるようにユニバーサル・プロトコルボードを設計しています

Highest Performance and Highest Throughput

Magnum VUは、最高性能、最高スループットのテスト・プラットフォームです。テラダインのテクノロジーでUPB装置を小型化し、従来のテスト装置とテスト対象デバイス間のケーブルを完全に排除し、UPBxをソケットボードに直接ドッキングすることで、テストのパラダイムを根本から変えました。このアーキテクチャはNear DUTテストと呼ばれ、信号経路の大幅な短縮、性能向上、レイテンシーの短縮、そして実システムに最も近い環境のエミュレーションを実現します。